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[公司動態(tài)]華榮華測試探針的工作原理

　　測試治具中，探針是作為一個媒介，探針放在套管里，探針頭接觸待測物，另一端的套管引出線將信號傳導出去，接收回來的信號在測試機里處理，比如電阻利用電流源計算探針兩端的壓降，電容以定電壓源不同頻率去計算充電時間的斜率.　　探針的頭型有多種,不同的測試點需不同的頭型，比如dip腳使用多爪頭型，測試pad點使用尖頭、圓頭或者平頭，IC腳位使用梅花頭形等全依靠有經(jīng)驗的制作人員依PCB成品上的零件去選取?！?..

2024-04-26 http://yoyitech.com.cn/Article/huaronghceshitanzh.html

[公司動態(tài)]探針市場有很好的發(fā)展前景

　　探針市場前景如何呢?從2023年的發(fā)展情況來看，探針市場正在以較慢的速度發(fā)展，且市場仍處于較低水平。但探針市場今后會面臨著新技術的使用，以及采用不同探針技術的企業(yè)的加入，這將有助于市場的持續(xù)發(fā)展，預計2023年探針市場規(guī)模的增長速度將繼續(xù)保持穩(wěn)定。　　此外，探針市場的發(fā)展還將受到政府支持的影響，政府在探針市場的監(jiān)管也加快了，比如中國政府的《物聯(lián)網(wǎng)行業(yè)標準》以及《物聯(lián)網(wǎng)信息標識技術規(guī)范》就屬于比...

2024-04-24 http://yoyitech.com.cn/Article/tanzhenshichangyouhe.html

[常見問題]探針市場結構如何呢？

　　探針市場結構如何呢?據(jù)報告，目前探針市場主要劃分為現(xiàn)有結構和新結構?，F(xiàn)有結構指的是從傳統(tǒng)探針開發(fā)和制造到現(xiàn)在移動探測器、三維射線檢測，傳統(tǒng)的結構和技術的制造填補了探針市場的不足?！　⌒陆Y構則是指新技術的制造，比如，蘋果的iBeacon技術，谷歌的Eddystone技術等，新技術的存在更大程度地推動了2023年探針市場的發(fā)展?！　∩钲谑腥A榮華電子科技有限公司經(jīng)多年發(fā)展，已經(jīng)穩(wěn)步成為國內(nèi)

2024-04-22 http://yoyitech.com.cn/Article/tanzhenshichangjiego.html

[行業(yè)資訊]全球測試探針市場發(fā)展趨向

　　全球探針市場正在朝著規(guī)模更大、多樣性更強、更多應用趨向發(fā)展，是探針市場運營商的非常好的發(fā)展機遇。從2023年的發(fā)展情況來看，探針市場正在以較慢的速度發(fā)展，且市場仍處于較低水平?！　〉结樖袌鼋窈髸媾R著新技術的使用，以及采用不同探針技術的企業(yè)的加入，這將有助于市場的持續(xù)發(fā)展，預計2023年探針市場規(guī)模的增長速度將繼續(xù)保持穩(wěn)定。下面華榮華就從市場規(guī)模加以剖析?！　∈袌鲆?guī)?！　?023年探針市場規(guī)...

2024-04-19 http://yoyitech.com.cn/Article/quanqiutanzhenshicha.html

[公司動態(tài)]探針對半導體封測環(huán)節(jié)的影響

　　探針是應用在半導體產(chǎn)品測試環(huán)節(jié)中的重要器件，其品質(zhì)的優(yōu)劣對半導體產(chǎn)品的測試效果、生產(chǎn)效率以及生產(chǎn)成本控制都有著重要的影響?！　√结槷a(chǎn)品的品質(zhì)主要體現(xiàn)在測試頻寬、產(chǎn)品尺寸、加工精度、可負載電流、耐久度等方面?！　∽鳛榧呻娐窚y試器中的關鍵部件，一套測試治具需要用到幾十、幾百甚至于上千根測試探針，因此儒眾智能從探針的結構設計、材料組成、生產(chǎn)制造等方...

2024-04-17 http://yoyitech.com.cn/Article/tanzhenduibandaotife.html

[行業(yè)資訊]探針在半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的地位

　　由于半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)工藝十分繁雜，任何工序的差錯都可能導致出現(xiàn)大量產(chǎn)品質(zhì)量不合格，并對終端應用產(chǎn)品的性能造成重大影響，因此測試探針對于半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)而言至關重要，貫穿半導體產(chǎn)品設計、制造、封裝及應用的全過程?！　√结樖前雽w測試中所需的重要耗材，通過與測試機、分選機、探針臺配合使用，用于設計驗證、晶圓測試、成品測試環(huán)節(jié)，篩選出產(chǎn)品設計缺陷和制...

2024-04-15 http://yoyitech.com.cn/Article/tanzhenzaibandaotich.html

[公司動態(tài)]測試探針按工作頻率分類

測試探針按工作頻率如何分類？下面就由深圳市華榮華電子科技有限公司小編來告訴你，按照探針工作頻率來劃分，探針分為同軸探針和普通探針。

2024-04-12 http://yoyitech.com.cn/Article/ceshitanzhenangongzu.html

[常見問題]測試探針按結構如何分類

測試探針按結構如何分類？從結構來看，常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針?！　椥蕴结槨　椥蕴结樣陕菪龔椈蓛啥颂捉釉谏舷轮ㄉ?，螺旋彈簧中間部分緊密纏繞(防止高頻信號產(chǎn)生附加電感和附件電阻)，兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強)，檢測集成電路時，信號從下柱栓向上形成導電路徑?！　冶凼教结槨　冶凼教结槥榻栌蓹M向...

2024-04-10 http://yoyitech.com.cn/Article/ceshitananzhenjiegou.html

[常見問題]彈簧頂針是什么材料制作的

彈簧頂針Pogopin通常由多種材料制成，以滿足其在電子設備連接和測試領域的特殊需求。彈簧頂針Pogopin的制作材料是多樣化的，旨在滿足不同應用場景下的性能需求。

2024-04-03 http://yoyitech.com.cn/Article/danhuangdingzhenshis.html

[公司動態(tài)]華榮華講述彈簧針的使用方法

　　在使用彈簧針時，彈簧頂針和頂針孔相互摩擦，頂針會燒壞或磨損，頂針孔會磨損更多，產(chǎn)品頂針會有剝落，甚至破損引腳會出現(xiàn)?，F(xiàn)象，影響產(chǎn)品的質(zhì)量或組裝。因此，我們必須定期并定期將彈簧針噴在彈簧針上進行潤滑。那么使用彈簧針的原理是什么?　　(1)頂針應布置成使彈射力盡可能平衡。復雜結構所需的脫模力大，并且套管的數(shù)量應相應增加?！　?2)頂針應放置在有效部位，如骨，柱，臺階，金屬嵌件，局部厚膠等結構復雜的...

2024-04-01 http://yoyitech.com.cn/Article/huaghuajiangshuda.html

[公司動態(tài)]測試探針最新介紹

測試探針，也被稱為POGO Pin或彈簧探針，是應用于電子測試中測試半導體元器件的一種功能測試探針，起連接導電和傳播信號的作用，一般配合測試座使用。

2024-03-29 http://yoyitech.com.cn/Article/ceshitanzhenzuixinji.html

[常見問題]精確度高的測試探針如何挑選

一般來說長的探針比較容易彎曲而且偏斜比較大，這樣的情況往往會影響測量的準確度，所以我們需要選擇一款短的探針，避免上述情況的發(fā)生，從而實現(xiàn)測量的高精確度。是不是越短越好呢?這就需要結合您的機器設備了。

2024-03-27 http://yoyitech.com.cn/Article/jingquedugaodetanzhe.html

[常見問題]如何選擇測試探針供應商

首先你要知道產(chǎn)品的需求，規(guī)模：當前和阻抗的要求，壽命，穩(wěn)定性，以及不同的產(chǎn)品組裝方法不同，需要使用圓，全面的，你必須考慮測試探針可接受的價格范圍。

2024-03-25 http://yoyitech.com.cn/Article/ruhexuanzetanzhengon.html

[公司動態(tài)]華榮華介紹pogo pin探針

隨著科技的飛速發(fā)展和智能設備的廣泛普及，pogopin智能家居連接器作為連接部件被廣泛應用于智能設備中。以其精致小巧的體積和良好穩(wěn)定的電流傳輸受到越來越多行業(yè)的青睞，尤其是很多為了提升智能家居的產(chǎn)品品質(zhì)，傳統(tǒng)的連接方式一定不夠突出，多樣化的連接方式pogo pin可以連接不同的設備，不同的空間，多種連接方式，多種結構，適用于各種電子產(chǎn)品?！　↓嫶蟮挠脩粢?guī)模帶動了對智能家居的強勁消費需求，pog...

2024-03-22 http://yoyitech.com.cn/Article/dadianliudanhuangzhe.html

[常見問題]根據(jù)分類的方法不同，探針都有哪些？

　　探針都有哪些呢，根據(jù)分類的方法不同，叫法也不一樣?！　∫弧⑻结樃鶕?jù)電子測試用途可分為三類：　　A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只檢測開路、短路探針;　　B、在線測試探針：　　PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;　　C、微電子測試探針